無狹縫平場極紫外光譜儀
簡 述：
maxLIGHT 采用專有的無狹縫設計，實現了最大光收集效率。其像差校正的平場光譜覆蓋范圍為 1–200 nm，并支持寬光譜帶寬.
品 牌：
產品型號：
- maxLIGHT pro
無狹縫平場極紫外光譜儀
· 平場掠入射光譜儀
· 專有無狹縫設計，實現最高效率
· 波長范圍：1–200 nm
· 集成光束分析儀（Beam Profiler）
· 模塊化、一體化交鑰匙設計
maxLIGHT 采用專有的無狹縫設計，實現了最大光收集效率。其像差校正的平場光譜覆蓋范圍為 1–200 nm，并支持寬光譜帶寬，例如單塊光柵可覆蓋 5–80 nm 的波段范圍。
模塊化設計可適配多種實驗幾何結構和配置需求。maxLIGHT 配備集成式狹縫支架、濾光片插入單元，以及電動光柵定位系統。
探測器可選配置包括：
· XUV CCD 探測器
· MCP/CMOS 探測器 —— 提供最寬波長覆蓋范圍，并支持門控/增強型探測器
如需進一步匹配您的實驗需求，歡迎聯系我們進行詳細討論。
此外，我們還可提供 maxLIGHT 光譜儀的定制化衍生版本。
無狹縫設計（No-slit Design）
HP Spectroscopy 專有的光譜儀設計采用直接源成像（Direct Source Imaging）方式，因此無需使用傳統的窄入射狹縫，從而最大程度提升光收集效率。
與傳統光譜儀結構相比，該設計可使進入探測器的光通量提高約 20倍。同時，這種架構也顯著提升了日常運行的穩定性和可靠性。
技術指標
Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)
13810233784
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