集成式 NEXAFS 系統
簡 述：
proXAS 是市場上首個可在實驗室內實現 NEXAFS 測量的系統，使元素分析的指紋識別能夠在本地完成，獲得快速且準確的結果。
該系統結合了高可靠性的激光驅動 XUV 光源與定制化光譜儀，其分辨本領高達 1900。能量范圍覆蓋 200–1200 eV，可對多種元素的 K 邊進行測量，例如 C、N、O、Ca、K、Ti。
品 牌：
產品型號：
- proXAS
德國 hp spectroscopy 集成式 NEXAFS 系統
特點
· 首款集成式臺式 NEXAFS 光譜解決方案
· 無需申請并等待同步輻射機時
· 適用于地質、生物及材料研究的化學態分析
· 快速多色（多能）采集
同步輻射級別的譜圖
· 能量范圍 200 – 1200 eV
· 分辨本領高達 1900
· 極高的表面靈敏度
· 可獲取分子軌道、氧化態及配位數等信息
· 配備光譜分析軟件套件
應用
· 有機材料分析，例如脂質膜、腐殖酸、聚合物薄膜等，尤其適用于碳 K 吸收邊區域
· 對 C、N、O、Ca、K、Ti等元素進行表面敏感的化學分析
聚酰亞胺薄膜（厚度 t = 200 nm）在碳 K 吸收邊處的 NEXAFS 光譜，由臺式系統測量并對 60 個脈沖進行平均。插圖：用于對比的同步輻射測量 NEXAFS 光譜。（數據由 IFNANO 的 K. Mann 博士提供）
采用高可靠性的激光等離子體產生的 XUV 光源。能量范圍200–1200eV，重復頻率25Hz。
產品指標
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光源 |
無碎屑激光等離子體 XUV 光源 |
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能量范圍 |
200-1200eV / 1-6nm |
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重復頻率 |
25Hz |
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光源穩定性 |
±1.5% |
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光譜儀 |
像差校正的平場光譜儀 |
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分辨能力 |
1900 |
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樣品室 |
轉塔式樣品位，支持多樣品安裝 |
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尺寸 |
1.5m x 1.0m |
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軟件 |
集成化系統控制 多種光譜校準與數據分析功能 |
13810233784
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